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X荧光分析仪器抄板与设计解析

时间:2010-05-24 14:03:07点击:

X荧光分析仪器抄板与设计解析
X荧光分析仪器抄板图

  邦凯作为一家有实力的反向技术研究公司,长期从事pcb抄板、反向解析、芯片解密、样机仿制克隆、样机制作、样机调试等领域的工作,在医疗设备、机械设备、自动化设备、广电设备、通信设备、仪器仪表设备、环保设备、印刷设备、家电设备、交通设备等领域成功完成了众多项目,深得客户的一致好评。以下是邦凯在分析仪器设备领域的一个成功案例。
  X荧光分析仪器
  仪器特点
  光管激发、无放射源污染
  同时分析CaO、Fe2O3、的含量,精度更高
  大屏幕中文液晶显示
  内置稳压电路,不需稳压电源
  1000个数据存储功能最快10秒出结果,亦可给出三率值
  主要技术指标
  分析精度:SCaO≤0.10%
  SFe2O3≤0.015%
  稳 定 性:|ΔCaO|≤0.10%
  |ΔFe2O3|≤0.02%
  测量时间:10秒、20秒…60秒
  整机功耗:≤40W
  尺 寸:42×34×12(cm)
  重 量:15kg
  目前,邦凯已经可以在该系列产品领域中为客户提供全方位的服务,我们不仅可以提供此系列产品的克隆仿制与二次开发,还可以提供诸多设计参考、系统级解决方案与样机调试、批量生产等垂直化服务,最大程度满足客户的需求。我们诚挚地欢迎每一位有需求的客户能与我们联系:
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